泰克OM4245光調(diào)制分析儀

OM 4245光調(diào)制分析儀(OMA)是一個45 GHz的1550 nm(C波段和L波段)光纖測試系統(tǒng)，用于復(fù)雜調(diào)制信號的可視化和測量，為測試相干和直接檢測的傳輸系統(tǒng)提供了一個完整的解決方案。OM 4245由偏振和相位不同的接收機和分析軟件組成，能夠同時測量對高級光纖通信非常重要的調(diào)制格式，包括QPSK、8 QAM、16 QAM、PAM 4等偏振復(fù)用(PM)格式。OMA軟件執(zhí)行所有的校準(zhǔn)和處理功能，以實現(xiàn)實時突發(fā)模式星座圖顯示、眼圖顯示、Poincaré球面和位錯誤檢測。

關(guān)鍵特征

*的靈活性

• 光調(diào)制分析器結(jié)構(gòu)兼容實時和等效時間示波器。¹
• 用于偏振復(fù)用的qpsk、偏移qpsk、qam、差分bpsk/qpsk等高級調(diào)制格式的完整相干信號分析系統(tǒng)。
• 顯示星座圖、相圖、q因子、q圖、譜圖、PoincaréSphere、信號與時間、激光相位特性、誤碼率，并通過matlab接口提供額外的圖表和分析。
• 用大多數(shù)偏振復(fù)用信號測量任意階偏振模色散(PMD)

精密光接收機

• 精密相干接收硬件為高精度、高穩(wěn)定性、偏振多樣化、光場檢測提供了小的溫度和時間變化。
• 高度線性光檢測允許在高本機振蕩器和信號功率水平下工作，以消除電放大。
• 一種集成的ECDL可調(diào)諧激光器，用作本地振蕩器，另一對用于自我測試。這兩種激光器對波段內(nèi)的任何波長都具有加的線寬和調(diào)諧范圍。
• 光學(xué)調(diào)制分析儀軟件允許大于5 mhz瞬時信號激光線寬兼容標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)可調(diào)諧源，如dbr和dfb激光器。
• 不需要激光相位或頻率鎖定。
• 智能偏振分離跟隨信號極化

用戶定義的可擴展性

• 用戶直接使用MATLAB訪問內(nèi)部函數(shù)²界面
• 通過以太網(wǎng)提供遠(yuǎn)程訪問
• 高級用戶界面為易用性提供了全面的可視化，并結(jié)合matlab的強大功能。
• OM 1106和OM 4200系列光調(diào)制信號分析儀軟件

400 g和1TB/s超通道支持

• 多載波軟件選項允許用戶定義超級信道設(shè)置。
• 超級信道配置允許用戶定義信道數(shù)、信道頻率和信道調(diào)制格式。
• 測試自動化在每個通道獲得完整的測量結(jié)果。
• 集成的測量結(jié)果可以方便地對信道進行比較。

¹某些功能只有在與泰克羅尼示波器一起使用時才能使用。

泰克OM4245光調(diào)制分析儀

光學(xué)調(diào)制分析器

大可探測波特率(假設(shè)“上升-余弦”脈沖形狀，其中帶寬要求=波特率*(1+Alpha)/2，使用的α值為0.1)

OM 4245：

80 Gbaud與Tektronix DPS 77004SX，使用70 GHz輸入

60 Gbaud與Tektronix DPS 77004SX，使用33 GHz輸入

OM 4225：

45 Gbaud與Tektronix DPO73304SX，使用33 GHz輸入

采樣率

200 GS/s與Tektronix DPS 77004SX

100 GS/s與Tektronix DPO 73304SX

EVM噪聲地板

1.8%

I/Q之間的O/E增益不平衡

0.1分貝

可用調(diào)制格式

OOK，3狀態(tài)OOK，(PM)BPSK，(PM)QPSK，(PM)8，16，32，64-QAM，(PM)偏移QPSK，(PM)8-PSK，2 ASK2PSK和PAM 4

任何rbs或用戶提供的模式。

控制

內(nèi)置以太網(wǎng)接口

OM 4200系列相干接收機

光輸入

C波段：1530至1567.5 nm

C波段和L波段：1530至1600 nm(可選)

大輸入功率

信號輸入：+10 dBm

參考輸入：+16 dBm

大輸入功率損傷級

+18 dBm

電帶寬

OM 4245：45 GHz

OM 4225：25 GHz

IQ混頻器校正后的光學(xué)相位角

90°±1°

校正后偏斜

±1ps

外部本地振蕩器輸入

光輸入波長范圍

C波段：1530至1567.5 nm

l波段：1570至1600 nm(可選)

建議的外部本地振蕩器輸入功率范圍

+7 dBm至+16 dBm

大輸入峰值功率(損傷水平)

+18 dBm

瞬時線寬

<5 MHz

本機振蕩器

波長范圍

C波段：1527.6到1567.5 nm

C波段和L波段：1567.5至1609.6 nm(可選)

輸出功率

>14.5 dBm

小波長步長

10 GHz

小頻率步長

100兆赫

波長精度

晚上10時

線寬(短期)

100千赫

側(cè)模抑制比

55分貝

高分辨率光譜儀

大頻率跨度

低頻±示波器帶寬(瞬時)

1530至1600 nm(使用MCS和CL選項)

LO波長范圍

C波段：1530至1567.5 nm

C波段和L波段：1530至1600 nm

FFT點數(shù)

一百萬

小RBW

1/大示波器時間窗

頻率精度

晚上10時

軟件需求

OM 4200軟件支持的平臺：

• 帶NVIDIA顯卡的計算機運行美國Microsoft Windows 7 64位和MATLAB 2011 1B(64位)或matlab 2014 a(64位)
• 帶NVIDIA顯卡的計算機運行美國Microsoft Windows 7 32位和matlab 2009 a(32位)

支持下列平臺，但可能無法使用某些高級圖形功能，如顏色、等級和3D：

• Tektronix 70000系列示波器，運行MicrosoftWindows 7 64位和matlab 2011 b(64位)
• 具有非NVIDIA圖形的計算機運行美國Microsoft Windows 7 64位和MATLAB 2011 B(64位)
• 具有非NVIDIA圖形的計算機運行美國Microsoft Windows 7 32位和matlab 2009 a(32位)

功率要求

功率要求

100/115/230 V交流，~50~60 Hz，1根電力電纜，大。100 VA

物理特性

維數(shù)

高度

1.96英寸(49.8毫米)足

1.7英寸。(43.2毫米)無腳

寬度

17.27英寸(438.7毫米)

深度

20.78英寸。(527.8毫米)不包括連接器和后腳

21.98英寸(558.3毫米)包括連接器和后腳

重量

網(wǎng)

10.6磅(4.8公斤)

航運

17.5磅(7.9公斤)

環(huán)境特性(不包括示波器)

溫度

操作

+10°C+35°C(50°F至95°F)

儲物

-20°C至+60°C(-4°F至140°F)，不凝結(jié)濕度

濕度

15%-80%相對濕度，不凝結(jié)

謹(jǐn)慎

此設(shè)備是1M級激光產(chǎn)品，僅在數(shù)據(jù)表中的推薦操作條件和額定值下使用。除了數(shù)據(jù)表中規(guī)定的程序外，使用控制或調(diào)整或執(zhí)行程序可能導(dǎo)致危險的輻射暴露。

不可見的激光輻射-不要直接用光學(xué)儀器來觀察該裝置的激光輸出。

本裝置符合21CFR1040.10規(guī)定，但根據(jù)2007年6月24日第50號激光通知發(fā)生的偏差除外。